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          X射線熒光光譜儀(XRF)

          簡要描述:

          X射線熒光光譜儀(XRF)是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。能分析原子序數 12~92的所有元素,選擇性高,分析微量組分時受基體的影響小,在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。

          產品型號:XL2 500、XL2 950

          廠商性質:經銷商

          更新時間:2023-06-13

          瀏覽次數:2901

          詳細介紹
          行業專用類型地質巖礦價格區間30萬-50萬
          儀器種類手持式/便攜式應用領域化工,石油,地礦,能源
            X射線熒光光譜儀(XRF)是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。能分析原子序數 12~92的所有元素,選擇性高,分析微量組分時受基體的影響小,在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。
           
            X射線是一種電磁輻射,其波長介于紫外線和γ射線之間。它的波長沒有一個嚴格的界限,一般來說是指波長為0.001-50nm的電磁輻射。X射線是用高速電子轟擊原子的內層電子,使之處于高激發狀態,同時外層的電子躍遷到缺少電子的內層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大,波長小,肉眼不可見,稱之為X射線。
           
            如果用高速電子激發產生的X射線又作為激發源(可稱之為一次X射線)去轟擊別的原子的內層電子,同樣可產生X射線,只是這種X射線的能量較一次X射線低,波長也較長,這種射線稱為二次X射線或X射線熒光、熒光X射線。X射線熒光的波長是以受激物質(待測物質)的原子序數為特征的,原子序數越大的物質波長越短。各種不同的元素都有本身的特征X射線熒光波長,這是用X射線熒光原理的X射線熒光光譜儀進行定性分析的依據;而元素受激發射出來的特征X 射線熒光的強度則取決于該元素的含量,這是定量分析的依據。
           

          X射線熒光光譜儀(XRF)

           

            基本原理如下:
           
            X射線熒光光譜儀(XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。
           
            a) X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。
           
            b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外,還與這種元素在樣品中的含量有關。
           
            c) 根據各元素的特征X射線的強度,也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。
           
            波長色散型和能量型譜儀原理圖:
           
          X射線熒光光譜儀(XRF)

           


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